儀器介紹：

瞬態(tài)平面熱源技術(shù)（TPS）開發(fā)的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀，可用于各種不同類型、不同形態(tài)材料的熱傳導(dǎo)性能的測(cè)試。

儀器特點(diǎn)：

1.測(cè)試范圍廣泛，測(cè)試性能穩(wěn)定，在國(guó)內(nèi)同類儀器中，處于優(yōu)先水平。

2.直接測(cè)量，測(cè)試時(shí)間5-160s左右可設(shè)置，能快速準(zhǔn)確的測(cè)出導(dǎo)熱系數(shù)，節(jié)約了大量的時(shí)間。

3.不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響。

4.無須特別的樣品制備，對(duì)樣品形狀并無特殊要求，塊狀固體只需相對(duì)平滑的樣品表面并且滿足長(zhǎng)寬至少為探頭直徑的兩倍即可。

5.對(duì)樣品實(shí)行無損檢測(cè)，意味著樣品可以重復(fù)使用。

6.探頭采用雙螺旋線的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計(jì)，結(jié)合專屬數(shù)學(xué)模型，利用核心算法對(duì)探頭上采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算。

7.樣品臺(tái)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)巧妙，操作方便，適合放置不同厚度的樣品，同時(shí)簡(jiǎn)潔美觀。

8.探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了進(jìn)口的數(shù)據(jù)采集芯片，該芯片的高分辨率，能使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠。

9.主機(jī)的控制系統(tǒng)使用了ARM微處理器，運(yùn)算速度比傳統(tǒng)的微處理器快，提高了系統(tǒng)的分析處理能力，計(jì)算結(jié)果更加準(zhǔn)確。

10.儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測(cè)定。

儀器技術(shù)參數(shù)：

DZDR-S 快速導(dǎo)熱儀的測(cè)試方法

DZDR-S 快速導(dǎo)熱儀局部圖片展示